Двойной микроскоп (микроскоп Линника)

Микроскоп для лабораторного контроля шероховатости поверхностей деталей. Определяемый показатель - средняя арифметическая высота неровностей поверхности Нср. Метод измерения основан на принципе светового сечения, заключающегося в том, что на поверхность контролируемой детали 1 через осветительный тубус под углом (обычно 45о) проектируется световая щель 2, рассматриваемая под углом через микроскоп тубуса 3. Т. к. на контролируемой поверхности имеются микронеровности, то линия пересечения световой проекции щели и поверхности - это кривая, копирующая неровности в этом сечении. Изменение высоты микронеровностей осуществляется окулярным микрометром.

» Терминологический словарь